開放包容 交流分享 | 裕太微Technical Day-Verfication&Validation專場
近日,裕太微電子的研發(fā)團隊成功舉辦了一場聚焦DV&Emu-Vx專題的Technical Day盛會,旨在深入探索并顯著提升驗證與測試領(lǐng)域的質(zhì)量與效率,為芯片研發(fā)工作保駕護航。
活動中,研發(fā)團隊的精英們積極互動,圍繞構(gòu)建高效、健全的防控體系和方法論展開了熱烈而富有成效的討論,并紛紛登臺,分享了他們在各自領(lǐng)域的最新研究成果。具體涵蓋以下幾個核心技術(shù)和平臺:
?1. YBench基礎(chǔ)公共驗證平臺?:該平臺以其最新的功能特性和在驗證實踐中的卓越表現(xiàn),贏得了廣泛關(guān)注。分享者詳細闡述了其最新功能,并深入剖析了其在提升驗證效率與準確性方面的獨特優(yōu)勢。
?2. Validation測試框架的平臺化設(shè)計?:分享者以獨到的視角,揭示了Validation測試框架平臺設(shè)計的精髓所在。他們探討了如何通過平臺化的策略,實現(xiàn)測試效率的大幅提升,同時增強測試的可復(fù)用性和可擴展性,為測試工作注入了新的活力。
?3. 芯片開發(fā)早期快速驗證方法學(xué)?:結(jié)合實際項目案例,分享者們生動展示了芯片開發(fā)早期快速驗證方法學(xué)在驗證與測試領(lǐng)域的廣泛應(yīng)用和顯著成效。他們通過具體的數(shù)據(jù)和實例,充分證明了這些方法在提升測試效率、準確性和可靠性方面的巨大潛力。
?4. 后仿與FPGA平臺設(shè)計的深度探討?:此外,活動還就后仿、FPGA平臺設(shè)計等前沿議題進行了深入的探討和交流。與會者們紛紛發(fā)表了自己的見解和看法,為這些領(lǐng)域的發(fā)展貢獻了新的思路和方向。
本次活動最終評選出了三名優(yōu)秀主講人,分別獲得一等獎、二等獎和三等獎。
此次Technical Day活動不僅極大地促進了研發(fā)團隊內(nèi)部的技術(shù)交流與合作,更為公司未來的芯片研發(fā)質(zhì)量保障工作提供了寶貴的經(jīng)驗和啟示。通過這一系列精彩紛呈的分享與討論,裕太微的研發(fā)團隊將更加自信地面對復(fù)雜的驗證與測試挑戰(zhàn),不斷攀登芯片研發(fā)的新高峰。